ZBEÜ Mühendislik Fakültesi öğretim üyelerinden Prof. Dr. Şenol Hakan Kutoğlu, Prof. Dr. Rahime Seda Tığlı Aydın, Doç. Dr. Hakan Kaya, Dr. Öğr. Üyesi Gülhan Ustabaş Kaya, Dr. Öğr. Üyesi Sefa Kocabaş, Tıp Fakültesi öğretim üyesi Doç. Dr. İshak Özel Tekin ve TÜRKSAT’ta görevli Seda Kartal’ın birlikte yer aldıkları “Değişik Atmosferik Koşullarda Holografik Mikroskopik Tekniklerle Virüs ve Nanopartiküllerin Saptanması ve Davranışlarının İzlenmesi” başlıklı ZBEÜ BAP projesi kapsamında geliştirilen “Yanal kesme sayısal holografik mikroskopi tabanlı nano-partikül algılama sistemi“ Zonguldak Bülent Ecevit Üniversitesi Strateji Geliştirme Daire Başkanlığının başvurusu neticesinde Türk Patent ve Marka Kurumu tarafından değerlendirilerek Patent Tescil Belgesi almaya hak kazanmıştır.
Başvurusu yapılan buluş ile Yanal Kesme Sayısal Holografik Mikroskopi tabanlı sistem kullanılarak havada serbestçe hareket eden çeşitli virus, bakteri, polen ve benzeri biyolojik yapıların, havada asılı duran mikro ve nano yapıların tanımlandığı ve bu partiküllerin değişik ortam koşullarında sergiledikleri davranışa göre çıkartılan konsantrasyon miktarı ile havada kalma sürelerinin belirlendiği gözlemlenmiştir. Ayrıca bu cihaz ile algılanan her türlü madde eş zamanlı olarak derin öğrenme algoritmaları ile sınıflandırılabilmektedir. Kullanılan sistemde komponent sayısı oldukça az olduğundan, PM konsantrasyon miktarını ölçmenin ve bu parçacıkları derin öğrenme kullanarak sınıflandırma ile tanımlamanın ilk defa ucuz bir sistemle yapılabilecektir.
Patent Tescil Belgesi almaya hak kazan bu sistem, temassız ölçüm yöntemlerinin önem kazandığı günümüz teknolojisine oldukça uygun olup sağlık, çevre, biyoloji, iş hijyeni, GLP (good laboratory practice) ve GMP (good manufacturing practice) şartlarının denetlenmesinde ve benzeri alanlarda da kullanılabilecektir.
Deneysel olarak yüksek başarım sağlayan buluş, Bireysel katılım yatırımcılarının desteği ile ticari ürüne dönüşebilecek kompakt bir cihaz haline getirildiği takdirde Sanayi ve Tıp alanında da önemli bir yere sahip olacaktır.
Bölümümüze kazandırılmış ilk tescil edilen patent Doç. Dr. Hakan Kaya’nın buluşçu olarak yer aldığı 019-GE-155616 tescil numarasına sahip AKILLI MUTFAK SİSTEMİ başlıklı patent iken, tescil edilen ikinci patent Dr. Öğr. Üyesi Gülhan USTABAŞ KAYA nın buluşçu olarak yer aldığı 2019/11442 tescil numarasına sahip ÇATLAK MALZEME TESPİT SİSTEMİ başlıklı patenttir. Bu bağlamda, “YANAL KESME SAYISAL HOLOGRAFİK MİKROSKOPİ TABANLI NANO-PARTİKÜL ALGILAMA SİSTEMİ” başlıklı patent bölümümüze kazandırılan üçüncü patent olma özelliğini taşımaktadır
Öğretim üyelerimizi tebrik eder, başarılarının devamını dileriz.